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局部放电检测仪 在了解了局部放电的基本理论之后，在本章我们的重点转向实际操作，我们先介绍局部放电测试中常用的三种接法，随后我们再介绍整个系统的接线电路，我们再分别介绍几种典型的试品的试验线路。局部放电测试电路的三种基本接法及优缺点。并联法 串联法 平衡法（1）标准试验电路，又称并联法。适合于必须接地的试品。其缺点是高压引线对地杂散电容并联在 CX上，会降低测试灵敏度。（2）接法的串联法，其要求试品低压端对地浮置。其优点是变压器入口电容、高压线对地杂散电容与耦合电容CK并联，有利于提高试验灵敏度。缺点是试样损坏时会损坏输入单元。（3）平衡法试验电路：要求两个试品相接近，至少电容量为同一数量级其优点是外干扰强烈的情况下，可取得较好抑制干扰的效果，并可变压器杂散电容的影响，而且可做大电容试验。缺点是须要两个相似的试品，且当产生放电时，需设法判别是哪个试品放电。值得提出的是：由于现场试验条件的限制（找到两个相似的试品且要保证一个试品无放电不太容易），所以在现场平衡法比较难实现，另外，由于采用串联法时，如果试品击穿，将会对设备造成比较大的损害，所以出于对设备保护的想法，在现场试验时一般采用并联法。二、采用并联法的整个系统的接线原理图。该系统采用脉冲电流法检测高压试品的局部放电量，由控制台控制调压器和变压器在试品的高压端产生测试局放所需的预加电压和测试电压，通过无局放藕合电容器和检测阻抗将局部放电信号取出并送至局部放电检测仪显示并判断和测量。系统中的高压电阻为了防止在测试过程中试品击穿而损坏其他设备，两个电源滤波器是将电源的干扰和整个测试系统分开，降低整个测试系统的背景干扰。

局部放电检测仪手持式开关柜巡检仪用于检测和测量开关柜中的瞬时接地电压放电和表面放电，并在液晶屏上实时显示放电波形和放电量。该仪器采用手枪便携式设计，可以直接在开关柜外壳扫描检测，对开关柜的运行不产生任何影响和无任何损害，同时对测量的信号进行TF卡存储和回放观察，并利用配供的耳机可以听到放电的声音。二、使用方法1、仪器的充电仪器实时显示电量，当电量显示较低时，应及时对仪器充电。在首次使用仪器之前，首先应该对仪器充电。一般完成充电所需时间约为7小时，但如果仪器已经部分充电，则充电时间将会减少，具体参看电量显示。另外，需要注意事项：（1）在充电过程中，务必关闭仪器开关。（2）当充电器已经插入后，切勿用仪器进行测量。2、仪器的开/关按下按钮，接通仪器电源，开启仪器；按下按钮，仪器关闭。3、主界面仪器打开后会显示如下主界面：?TEV波形显示区域0028mv、-2dB(放电幅值显示) 放电次数：0次数/秒（放电次数统计）严重程度：0（放电严重程度显示）：交通显示灯?ultra波形显示区域0060mv、12dB(放电幅值显示) 放电次数：10次数/秒（放电次数统计）严重程度：1640（放电严重程度）：交通显示灯?波形图（实时波形界面）?设置（设置界面）?柱状图（柱状图界面）4、Settings设置界面※TEV 设置（瞬时接地电压设置）-即TEV参数设置显示屏※ultra设置（超声波设置）-即超声波参数设置显示屏（1）TEV 设定值的调整在TEV设置（瞬时接地电压设置）、USS设置（超声波设置）显示屏中，使用“＋”与“-”按钮来选择你想要修改的设定值。所选用的数值会以高亮红色显示，按下保存＆退出（保存并退出）按钮，修改值。Red（红色）-设定红色门限Yel（黄色）-设定黄色门限保存＆退出（保存/退出）-回到主设置菜单，并保存任何修改取消（取消）-取消以上设置，并恢复之前设置（2）ultra 设定值的调整Red（红色）-设定红色门限Yel（黄色）-设定黄色门限A：出厂设定Save＆Exit（保存并退出）-回到主设置菜单，并保存任何修改Cancel（取消）-取消以上设置，并恢复之前设置设置方法同上

局部放电检测仪局部放电的定义及产生原因在电场作用下，绝缘系统中只有部分区域发生放电，但尚未击穿，（即在施加电压的导体之间没有击穿）。这种现象称之为局部放电。局部放电可能发生在导体边上，也可能发生在绝缘体的表面上和内部，发生在表面的称为表面局部放电。发生在内部的称为内部局部放电。而对于被气体包围的导体附近发生的局部放电，称之为电晕。由此 总结一下局部放电的定义，指部分的桥接导体间绝缘的一种电气放电，局部放电产生原因主要有以下几种：1、电场不均匀。2、电介质不均匀。3、制造过程的气泡或杂质。经常发生放电的原因是绝缘体内部或表面存在气泡；其次是有些设备的运行过程中会发生热胀冷缩,不同材料特别是导体与介质的膨胀系数不同，也会逐渐出现裂缝；再有一些是在运行过程中有机高分子的老化，分解出各种挥发物，在高场强的作用下，电荷不断地由导体进入介质中， 在注入点上就会使介质气化。二 、局部放电的模拟电路及放电过程简介介质内部含有气泡，在交流电压下产生的内部放电特性可由图1—1的模拟电路(a b c等值电路)予以表示；其中Cc是模拟介质中产生放电间隙(如气泡)的电容；Cb代表与Cc串联部分介质的合成电容；Ca表示其余部分介质的电容。(a) 实际介质 模拟电路I——介质有缺陷(气泡)的部份(虚线表示)II——介质无缺陷部份图1—1 表示具有内部放电的模拟电路图1—1中以并联有—对火花间隙的电容Cc来模拟产生局部放电的内部气泡。图1—2表示了在交流电压下局部放电的发生过程。